產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 力學(xué)應(yīng)用 >
產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
原位拉伸冷熱臺(tái)是一款研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品 。 原位拉伸模塊可以設(shè)定恒力或恒速方式進(jìn)行拉伸、壓縮,或者按程序段進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃(選型)或RT~1500℃(選型)溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測(cè)試,可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合。
果果儀器 拉伸機(jī)冷熱臺(tái)是一種安裝在萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)上研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃(選型)或RT~1000℃(選型)溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測(cè)試,可選配DIC、視頻引伸計(jì)實(shí)現(xiàn)應(yīng)變數(shù)據(jù)的高精度采集。
原位拉伸冷熱臺(tái) FS500是一款研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮制冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測(cè)試,可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合。 產(chǎn)品需要與溫度控制器、致冷控制器(選配)以及原位拉伸控制器配套使用,配套的上位機(jī)軟件方便進(jìn)行溫度、力學(xué)參數(shù)設(shè)置及數(shù)據(jù)采集。
果果儀器 原位拉伸冷熱臺(tái)是一款研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。 產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃(選型)或RT~1000℃(選型)溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測(cè)試,可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合,可以分析材料在測(cè)試過(guò)程中相變、裂紋萌生和擴(kuò)展、斷裂、彎曲、高溫蠕變等狀態(tài)。 原位拉伸模塊可以設(shè)定恒力或恒速方式進(jìn)行拉伸、壓縮,或者按程序段進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)。
原位拉伸臺(tái),SEM拉伸臺(tái),SEM原位拉伸冷熱臺(tái)是在SEM(掃描電子顯微鏡)下的一款研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。原位拉伸臺(tái)采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃(選型)或RT~1000℃(選型)溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測(cè)試,可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合,可以分析材料在測(cè)試過(guò)程中相變、裂紋萌生和擴(kuò)展、斷裂、彎曲、高溫蠕變等狀態(tài)。
果果儀器XRD冷熱臺(tái),桌面式拉伸試驗(yàn)機(jī)冷熱臺(tái)是一種安裝在萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)上研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃(選型)或RT~1000℃(選型)溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測(cè)試,可選配DIC、視頻引伸計(jì)實(shí)現(xiàn)應(yīng)變數(shù)據(jù)的高精度采集。