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產品分類CLASSIFICATION
外部調節(jié)探針臺,果果儀器外部調節(jié)探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特性。$n產品采用半導體冷熱的方式,實現-25~120℃范圍內精準控制,與其他電學儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。
半導體冷熱臺,探針熱臺 EH600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用電阻加熱的方式,實現RT~600℃范圍內精準控制,與其他電學儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。
探針冷熱臺 ECH600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-190~600℃范圍內精準控制,與其他電學儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。
果果儀器 外部調節(jié)探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學測試而設計的產品,可表征材料升溫和降溫階段,其電學性能隨溫度變化的特征。
果果儀器_電控位移探針冷熱臺(納米級)是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征,采用高精度電控探針,達到納米級控制。$n產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-190~600℃(選型)或RT~1200℃(選型)范圍內精準控制,與其他電學儀表(如源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。